Principe de fonctionnement
Faible puissanceXLe rayonnement du tube à rayons excite le rayonnement Fluorescent des atomes de l'échantillon analysé. Le faisceau de rayonnement émis par l'échantillon est envoyé au cristal analysé. Rayonnement Fluorescent du soufre (SKα), réfléchie à un angle fixe et détectée par un compteur de gaz proportionnel. L'intensité du rayonnement est directement proportionnelle à la teneur en soufre de l'échantillon.
Les données obtenues sont collectées et traitées par un ordinateur intégré. Les résultats peuvent être exportés sur l'écran de l'appareil ou imprimés via une imprimante interne.
Ø Caractéristiques
Ø Gamme de détermination du soufre- le -Accessible 3 ppm;
Ø Extrêmement faibleLimites de détection - le - 1 ppm;
Ø Haute performance - le - Chaque échantillon est testé uniquement3Minutes;
Ø En utilisant une ouverture élevéeXCircuit optique de rayon, peut réaliserHaute répétabilité;
Ø Deux sortes deMode de mesure:
- Oui. Chambre à vide- Oui.L'analyse de l'échantillon est effectuée en atmosphère atmosphérique, alors que le chemin optique est sous vide (il n'est pas nécessaire d'appliquer de l'hélium coûteux);
- Oui. Purge d'hélium– entièrement conformeASTMNormes;
Ø Écran tactileEt interface conviviale;
Ø IntégréContrôle et traitementLe calculateur;
Ø Disponible enIntégréImprimanteImprimer le rapport sur;
Ø UtilisationPratique, opérationsFiable;
Ø PréventionL'échantillon fuit à l'intérieur de l'analyseur;
Ø Compense automatiquement l'impact d'autres éléments, réduitErreur d'analyse- Oui.
Ø Spécifications
Paramètres |
Valeurs numériques |
Gamme de détermination de la teneur en soufre,Unités:ppm |
3 - 50 000 |
600Limite de détection statistique de la durée de détection en secondes,Unités:ppm |
1 |
Limite d'erreur de mesure de paire: • À partir de 3 ppmà60 ppm: • À partir de60 ppmà50 000 ppm: Ici,C=Mesure de la composition en soufre- Oui. |
Δc = ±(1.6642 + 0,0584*C; Δc = ± 0.18*C0.818 |
Limite générale d'erreur relative de mesure, en:% de |
0,5 |
Dans la confianceP = 0.95Répétabilité dans des conditions de travail constantes: • À partir de 3 ppmà60 ppm: • À partir de 60 ppm à600 ppm: • À partir de 600 ppm à50 000 ppm: Ici,C=Fraction massique de soufre- Oui. |
r = 1.7 + 0.0248*C; r = 4; r = 8 + 0.0188*C. |
Taux de comptage du molybdène dans l'échantillon témoin, en:imp. / Sec |
> 8 000 |
Contraste (rapport du taux de comptage du molybdène dans l'échantillon témoin au taux de comptage du fluoroplaste dans l'échantillon témoin) |
> 100 |
Puissance |
220 ± 22 V,50 ± 1 Hz |
Consommation d'énergie |
250 V-A |
Dimensions extérieures (longueur × largeur × hauteur),mm |
450×400×415 |
Le poids,kg |
45 |
Temps moyen sans panne en heures |
Pas moins que16 000Heures |
Durée de vie moyenne en années |
Pas moins que10Année |
Ø Logiciel
Le contrôle et le fonctionnement de l'analyseur peuvent être effectués via l'écran tactile, tout en produisant des résultats de mesure. Le logiciel a une interface en anglais.
ASW-2Fonctions du logiciel:
- Oui. Sélectionner ou créer un nouvel opérateur;
- Oui. Sélectionner le mode de mesure;
- Oui. Sélectionner ou régler les principaux paramètres de l'instrument;
- Oui. Vérifier les erreurs relatives de mesure du taux de comptage et du contraste;
- Oui. Impression de rapports de mesure ou de spectres;
- Oui. Les échantillons dont la teneur en soufre est inconnue sont analysés.
Analyseur de soufre dispersif en longueur d'onde des rayons X analyseur de soufre dispersif en longueur d'onde des rayons X analyseur de soufre dispersif en longueur d'onde des rayons X analyseur de soufre dispersif en longueur d'onde des rayons X analyseur de soufre dispersif en longueur d'onde des rayons X