Le nouveau ea1280 a la résolution de détecteur requise par les recommandations de la norme chinoise (norme GB) et offre une efficacité de fonctionnement et une précision d'analyse supérieures à celles d'autres détecteurs à semi - conducteurs tels que les diodes si - pin. En particulier par rapport à d'autres méthodes d'analyse, l'analyse par fluorescence X fournit une analyse élémentaire rapide, non destructive et simple, de sorte qu'elle est continuellement utilisée plusieurs fois dans le dépistage de la conformité ROHS.

1. Utilisez le nouveau détecteur de semi - conducteur haute performance (détecteur de dérive de silicium (SDD)) pour améliorer l'efficacité du travail de test et obtenir des résultats plus fiables.

2. Employez l'optique coaxiale pour l'observation d'échantillon et l'irradiation des rayons X, ce qui facilite l'analyse de divers échantillons.

3. Équipé d'un logiciel facile à utiliser, il est facile pour l'opérateur d'utiliser l'analyseur simplement avec une formation simple de contrôle de la qualité et de contrôle de processus.