v Adoption de technologies de pointe mondiales et de nombreux brevets indépendants nationaux
v Peut être utilisé comme test de fonction de test unilatéral, standard, multisegment et point de fil
v La résistance de conduction peut être réglée individuellement en groupe, résistance de conduction mesurable de manière ponctuelle unilatérale
v La mesure de point peut être réglée séparément pour la valeur de sensibilité et la couleur d'une seule ligne
v Capacité maximale mesurable500μF, capacité mesurable et capacité positive et négative
v Court - circuit, mauvais jugement d'extrémité ouvert est précis
v La vitesse de test globale du système est doublée par rapport à ses homologues traditionnels
v Fournir avancéUSBEtRS232Interface,Et peut être associé àPCOpérations en ligne
v Matériaux spéciaux et processus de fabrication, isolation moins affectée par l'air humide
v Le système fournit des rapports statistiques et des fonctions d'impression
v Le système fournit la fonction de comptage de bon produit, peut exiger selon la quantité d'emballage de produitRéglage du rappel de comptage des bons tests
v Conception Soft hard autonome, personnalisation visible des exigences du client autres fonctions
v Chinois anglais one Click switch
Spécifications techniques SPECIFICATION
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Mesurer Quantité Lorsque Chambre Test time |
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Cassé/Court - circuitOpen/short |
Rapide(4ms/Une fois/ 128Le point),Lent(8ms/Une fois/ 128Le point) et |
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Résistance à la conductionCond |
Rapide55Une fois/Secondes,Vitesse moyenne45Une fois/Secondes,Lent30Une fois/Secondes0.2s/64net(Standard) etRéférence |
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Résistance d'isolationInsulation resistance |
Une paire d'autres3.6s/128net(0.01s)Rapide à deux points0.4s/128net(0.01s) 0.01Secondes...60Réglages sélectionnables en secondes |
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Haute pression ACAC High Voltage |
Une paire d'autres9.5s/128net(0.01s)Rapide à deux points0.9s/128net(0.01s) 0.01Secondes...60Réglages sélectionnables en secondes |
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L'instant/Court - circuit à grande vitesse INT Time |
0Secondes...99Secondes Soit0Secondes pour temps illimité
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Mesurer Essayez Participer NombreTest parameters |
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Items Le butProject |
SymbolesSymbol |
Gamme d'essaisTest range |
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Cassé/Court - circuit |
O/S |
1kΩ ~ 100kΩ |
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Test de résistance de conduction |
COND |
1mΩ ~ 50Ω |
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Mesure de résistance |
R |
0.1Ω ~ 5mΩ |
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Mesure de capacité |
C |
10pF~1000μF |
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Mesure de Diode |
D |
0.0V~7.0V |
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Impédance d'isolation |
I.S |
0.1mΩ ~ 1000mΩ |
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Courant de fuite DC |
IL |
1μA~1000μA |
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Courant de fuite haute tension |
IL |
0.01mA~5mA |
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Impédance de conduction instantanée |
INT.COND |
1mΩ ~ 50Ω |
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Rupture instantanée rapide |
INT.OPEN |
0.4ms |
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Court - circuit instantané |
INT.O/S |
2ms/64pinSensibilité |
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Les règles Le GRID Dire Ming Specifications |
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Test du mode scan Scan Mode |
Automatique/Manuellement/Continu/Scan externe commutable |
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Afficher/Dispositif d'alarme sonoreWaming device |
Pass/Fail LEDIndicateur rouge - Vert/Affichage de l'image/Police sonore320*240LCDÉcran LCD, bleu/Commutable sur fond blanc |
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Dispositif de stockage |
Construit à l'intérieur512KB SRAM,Extensible1024KB |
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DimensionsSize |
(W × d × h) 425 × 190 × 350 mm |
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PoidsWeight |
Environ14kg(Sans accessoires) et
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Choisir Acheter Se référant à SudSelection Guide |
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Modèle de produit
Product Type |
Mesurer le nombre de points
Test Points |
Mesurer la tension
Test Voltage |
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LK-5800D |
64pin |
DC:5~1000V |
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LK-5800F |
64 pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
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LK-5800N |
128pin |
DC:5~1000V |
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LK-5800N2 |
256pin |
DC:5~1000V |
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LK-5800NA |
128 pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
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LK-5800NA2 |
256pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
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LK-5800FA |
128 pin |
DC:5~1500V,AC:100~1000V |
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LK-5800FA2 |
256pin |
DC:5~1500V,AC:100~1000V |
