Technologie Optoélectronique siyin (Shanghai) Co., Ltd
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Mesure de la topographie du logo Apple
Épaisseur des lentilles mesure de l'épaisseur des lentilles sans contact
Détails du produit
  • Épaisseur des lentilles

    镜片厚度测量

    Mesure d'épaisseur de lentille sans contact, facile à prendre et à placer, mesure rapide de haute précision

    Modèle OP2 OP3 OP4 OP5
    Épaisseur minimale mesurée 12um 22um 66um 192um
    Épaisseur maximale mesurée 460um 1540um 4390um 14850um
    Gamme de mesure de la tête ± 180um ± 500um ± 1550um ± 5000um
    Résolution 10nm 20nm 40nm 300nm
    Mesurer la vitesse 2-4.5kHz
    Précision de mesure 0.02%F.S.
    Nombre de couches mesurables 1 - 4 étages
    Fichier d'indice de réfraction peut être sauvegardé 50 de

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